HLEDEJ V DATABÁZI
hledání v systému DNEP
ZADEJ DO DATABÁZE
vložení nového záznamu do systému DNEP


nabídka

1A. Název česky: Bezkontaktní mikrovlnný měřič malých diferencí tlouštěk od reflexního povrchu
1B. Název anglicky: Contactless Microwave Meter for Measurement of Small Thickness Differences of Reflective Sheets
2. Typ: Užitný vzor - zapsaný
3. Datum zadání: 2010-07-08 09:22:28
4. Platnost nabídky do: 2017-07-08 00:00:00
5. Ochrana průmyslových práv: Řešení ve fázi: udělení/dokončení   2010-09-03
5.1 Číslo přihlášky: PUV 2010-22933
5.2 Číslo ochranného dokumentu: 21248
6. Obor: Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
7. Autor(autoři), popř. nositel nebo kontaktní osoba:
Příjmení:Hoffmann
Jméno:Karel
Titul před:prof. Ing.
Titul za:CSc.
Fakulta/část ČVUT: Fakulta elektrotechnická (FEL)
Katedra název/číslo: Katedra elektromagnetického pole/13117
Adresa pracoviště:FEL - Technická 2, Praha 6, 166 27
Telefon: +420-22435-2296
Email: hoffmann@fel.cvut.cz
Spolupracovníci: prof.Ing.Zbyněk Škvor, CSc.
8. Popis: Hlavní výhodou nového řešení je, že oproti stávajícímu řešení umožňuje dosáhnout současně velmi úzké rezonanční křivky a zároveň velké amplitudy této křivky.
9. Publikováno v:
10. Reference, popř. ocenění:
11. Poznámky: Případné bližší informace lze získat v Patentovém středisku ČVUT, Ing.Hana Dušková, tel.: 22435 5275, e-mail: dusko@vc.cvut.cz
12. Adresa URL (www):
13. Klíčová slova: reflexní povrch, tloušťka, malé diference, Mikrovlnný měřič,
14. Odesílatel:
Příjmení: Dušková
Jméno: Hana
Titul: Ing.
Email: dusko@vc.cvut.cz
15. Autor je zařazen do DNEP jako: expert
zodpovědná osoba přístroje
tisk